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可靠性试验的分类

日期:2020-02-17 07:06
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摘要:
电子元器件常用的可靠性试验的分类方法很多。按试验目的来分,可分为可靠性鉴定试验、寿命试验、筛选试验、耐久性试验、可靠性增长试验。按实验地点来分,可分为现场试验和模拟试验(试验室试验)。按试验项目来分,则可分为环境试验、现场使用试验、特殊检测和寿命试验等。也有按所施加应力情况来区分的各种可靠性试验。
     

      虽然可靠性试验门类很多,不同试验都能采集到不同的数据,但它们都反映了在不同阶段、不同考核对象的可靠性水平,是否达到了预定的可靠性指标。可靠性指标实际上就是可靠性试验的失效判据。采用不同的失效判据,其可靠性评价的结果就会不同。为了通过可靠性试验准确地对产品进行可靠性评价,除了要**的确定失效判据外,还要注意正确的选用抽样方法和选用合适的技术标准。下面就是对失效判据、抽样方法和技术标准进行介绍。
失效判据
   在进行可靠性试验前,首先要确定好失效判据。由于失效的判据不同,试验结果也会有不同,为此必须做出合理的失效定义(制定失效判据)。
     失效一般分两种,即致命性失效和非致命性失效。致命性失效如断路、短路和严重丧失功能。非致命性失效如漂移失效(漏电流、互联线电阻增加、电源电压下降)。这将取决于退化的程度不同,失效形式也不同,把参数退化到什么程度判定为失效,即失效判据不同,可靠性试验的评价结果也会有明显的不同。所以,如何确定失效判据应该非常慎重。
      确定失效判据一般有两种考虑,一是从满足工作电流,工作条件的角度来判定试验对象的容限值,二是从产品可靠性可以控制的角度来确定其极限值。对**种情况,是使用方从对器件性能的需求来考虑的;对与第二种情况,则是生产方从器件中的失效物理出发,根据其失效模式,失效机理来确定失效判据。实际上,这两种考虑应该兼顾,在我们常用的各种技术标准中,都兼顾到了这两方面的考虑。
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